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Medientyp: Buch; Hochschulschrift Titel: Zuverlässigkeit von großflächigen Verbindungen in der Leistungselektronik : ein Beitrag zum "Design for Reliability" Weitere Titel: Nebent.: Zuverlässigkeit von Leistungselektronik Enthält: Literaturverz. S. 187 - 199 Beteiligte: Thoben, Markus [Verfasser:in] Erschienen: Düsseldorf: VDI-Verl., 2002 Erschienen in: Verein Deutscher Ingenieure: Fortschrittberichte VDI / 9 ; 363 Berichte des Instituts für elektrische Antriebe, Leistungselektronik und Bauelemente der Universität Bremen Ausgabe: Als Ms. gedr. Umfang: VIII, 199 S; Ill., graph. Darst; 21 cm Sprache: Deutsch ISBN: 3183363097 RVK-Notation: ZN 1000 : Fortschrittsberichte und Referateorgane ZN 4040 : Zuverlässigkeit elektronischer Bauelemente und Geräte Schlagwörter: Leistungselektronik > Elektronisches Bauelement > Zuverlässigkeit > Lötverbindung > Thermische Ermüdung > Lebensdauer Leistungselektronik > Elektronisches Bauelement > Zuverlässigkeit > Lötverbindung > Thermische Ermüdung > Lebensdauer Entstehung: Hochschulschrift: Zugl.: Bremen, Univ., Diss., 2002 Anmerkungen: Weitere Bestandsnachweise 0 : Fortschrittberichte VDI / 9