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Medientyp: Buch Titel: Large-angle convergent-beam electron diffraction (LACBED) : applications to crystal defects Beteiligte: Morniroli, Jean Paul [VerfasserIn] Erschienen: Paris: Société Française des Microscopies, 2002 Erschienen in: Monograph of the French Society of Microscopies Umfang: XII, 431 S; Ill. graph. Darst Sprache: Englisch ISBN: 2901483054 RVK-Notation: UH 6300 : Transmissionselektronenmikroskopie insgesamt, Allgemeines UQ 2400 : Imperfektionen, Defekte, Wachstumsfehler Schlagwörter: Gitterbaufehler > Elektronenbeugung Entstehung: Anmerkungen: Bibliogr. p. 393-425. - Index
Zentralbibliothek – Magazin Signatur: R2019 8 6615 Barcode: 31892284 Status: Ausleihbar, bitte bestellen > Bestellen möglich - bitte anmelden