Doerner, Ralf
[Sonstige Person, Familie und Körperschaft];
Heymann, Peter
[GefeierteR];
Rudolph, Matthias
[Sonstige Person, Familie und Körperschaft];
Dörner, Ralf
[HerausgeberIn]
Selected topics on microwave measurements, noise in devices and circuits, and transistor modeling
: a festschrift for Peter Heymann [to celebrate his 65th birthday]
- [1. Aufl.]
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Medientyp:
Buch
Titel:
Selected topics on microwave measurements, noise in devices and circuits, and transistor modeling
:
a festschrift for Peter Heymann [to celebrate his 65th birthday]