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Medientyp: Buch; Hochschulschrift Titel: Lifetime spectroscopy : a method of defect characterization in silicon for photovoltaic applications ; with 29 tables Enthält: Literaturangaben Zsfassung in dt. Sprache Beteiligte: Rein, Stefan [Verfasser:in] Erschienen: Berlin; Heidelberg; New York: Springer, [2005] Erschienen in: Springer series in materials science ; 85 Umfang: XXVI, 489 Seiten; 153 Diagramme; 24 cm Sprache: Englisch; Deutsch ISBN: 3540253033; 9783540253037 Verlags-, Produktions- oder Bestellnummern: Sonstige Nummer: 11320067 RVK-Notation: ZN 3460 : Halbleiterwerkstoffe Schlagwörter: Siliciumhalbleiter > Gitterbaufehler > Lebensdauerspektroskopie Entstehung: Hochschulschrift: Dissertation, Universität Konstanz Anmerkungen: Literaturangaben Weitere Bestandsnachweise 0 : Springer series in materials science