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Rogge, Sönke [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] ; NXP Semiconductors Germany

Neue Methoden für den Massiv-Paralleltest im Hochvolumen, Yield Learning und beste Testqualität - MAYA

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  • Medientyp: E-Book
  • Titel: Neue Methoden für den Massiv-Paralleltest im Hochvolumen, Yield Learning und beste Testqualität - MAYA : Abschlussbericht zum BMBF-Verbundvorhaben
  • Beteiligte: Rogge, Sönke [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]
  • Körperschaft: NXP Semiconductors Germany
  • Erschienen: Hamburg, 2009
  • Umfang: Online-Ressource (79 S., 2,32 MB); graph. Darst
  • Sprache: Deutsch
  • DOI: 10.2314/GBV:617021090
  • Identifikator:
  • Schlagwörter: Forschungsbericht
  • Entstehung:
  • Anmerkungen: Förderkennzeichen BMBF 01M3172B. - Verbund-Nr. 01049328
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