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Medientyp: Buch Titel: Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications Beteiligte: Servín, Manuel [Verfasser:in]; Antonio Quiroga, J. [Verfasser:in]; Moisés Padilla, J. [Verfasser:in]; Quiroga, J. Antonio [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Padilla, J. Moisés [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Padilla, J. Moisés [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] Erschienen: Weinheim: Wiley-VCH, 2014 Umfang: XVI, 327 S.; Ill., graph. Darst; 244 mm x 170 mm Sprache: Englisch ISBN: 3527411526; 9783527411528 Verlags-, Produktions- oder Bestellnummern: Sonstige Nummer: 1141152 000 RVK-Notation: UH 5400 : Interferenz, optische Filter, Interferometrie allg., Fourieroptik, Fourier-Spektroskopie, Polarisation Schlagwörter: Metrologie > Optische Messtechnik Optische Messung > Interferometrie Entstehung: Anmerkungen: Literaturverz. S. 315 -324