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Institute of Electrical and Electronics Engineers, IEEE Computer Society

2013 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)

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  • Medientyp: E-Book; Konferenzbericht
  • Titel: 2013 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT) : 2 - 4 Oct. 2013, New York City, NY
  • Weitere Titel: Nebent.: Proceedings of the 2013 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFTS)
  • Körperschaft: Institute of Electrical and Electronics Engineers ; IEEE Computer Society
  • Erschienen: Piscataway, NJ: IEEE, 2013
  • Umfang: Online-Ressource; Ill., graph. Darst
  • Sprache: Englisch
  • ISBN: 9781479915859; 1479915831; 147991584X; 9781479915835; 9781479915842
  • Schlagwörter: VLSI > Fehlertoleranz
  • Entstehung:
  • Anmerkungen: Literaturangaben
    Auf der Homepage als "16th IEEE Symposium ..." gezählt, insgesamt jedoch die 26. Tagung in dieser Konferenzfolge (1998 Namensänderung von "Workshop" zu "Symposium")