> Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.
Medientyp: E-Book; Konferenzbericht Titel: 2014 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT) : 1 - 3 Oct. 2014, Amsterdam Weitere Titel: Nebent.: Proceedings of the 2014 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT) Körperschaft: Institute of Electrical and Electronics Engineers ; IEEE Computer Society ; IEEE Computer Society, Test Technology Technical Council Erschienen: Piscataway, NJ: IEEE, 2014 Umfang: Online-Ressource Sprache: Englisch ISBN: 9781479961566; 147996154X; 1479961558; 1479961566; 9781479961542; 9781479961559 Schlagwörter: VLSI > Fehlertoleranz Entstehung: Anmerkungen: Title from content provider