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Medientyp: E-Book; Konferenzbericht Titel: Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium, 2004. Twentieth Annual IEEE Erschienen: [Place of publication not identified]: [publisher not identified], 2004 Umfang: 1 Online-Ressource (1 online resource) Sprache: Englisch ISBN: 078038363X; 0780383648; 9780780383630; 9780780383647 Schlagwörter: Semiconductors Thermal properties Congresses ; Semiconductors Cooling Congresses ; Konferenzschrift Entstehung: Anmerkungen: Title from content provider