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Kiamehr, S. [VerfasserIn]; Osiecki, T. [VerfasserIn]; Tahoori, M. [VerfasserIn]; Nassif, S. [VerfasserIn]

Radiation-induced soft error analysis of SRAMs in SOI FinFET technology: A device to circuit approach

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  • Medientyp: Sonstige Veröffentlichung; Elektronischer Konferenzbericht; E-Artikel
  • Titel: Radiation-induced soft error analysis of SRAMs in SOI FinFET technology: A device to circuit approach
  • Beteiligte: Kiamehr, S. [VerfasserIn]; Osiecki, T. [VerfasserIn]; Tahoori, M. [VerfasserIn]; Nassif, S. [VerfasserIn]
  • Erschienen: Association for Computing Machinery, 2014-01-01
  • Sprache: Englisch
  • DOI: https://doi.org/10.1145/2593069.2593196
  • ISBN: 978-1-4503-2730-5
  • Schlagwörter: DATA processing & computer science
  • Entstehung:
  • Anmerkungen: Diese Datenquelle enthält auch Bestandsnachweise, die nicht zu einem Volltext führen.