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Medientyp: Sonstige Veröffentlichung; Elektronischer Konferenzbericht; E-Artikel Titel: A Cross-Layer Approach for Soft Error Analysis of SRAMs in SOI FinFET Technology Beteiligte: Kiamehr, S. [VerfasserIn]; Tahoori, M. B. [VerfasserIn] Erschienen: KITopen (Karlsruhe Institute of Technologie), 2015-03-11 Sprache: Englisch Schlagwörter: DATA processing & computer science Entstehung: Anmerkungen: Diese Datenquelle enthält auch Bestandsnachweise, die nicht zu einem Volltext führen.