Patt, M.
[VerfasserIn];
Wiemann, C.
[VerfasserIn];
Weber, N.
[VerfasserIn];
Escher, M.
[VerfasserIn];
Gloskovskii, A.
[VerfasserIn];
Drube, W.
[VerfasserIn];
Merkel, M.
[VerfasserIn];
Schneider, C. M.
[VerfasserIn]
Bulk sensitive hard x-ray photoemission electron microscopy
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Medientyp:
E-Artikel
Titel:
Bulk sensitive hard x-ray photoemission electron microscopy
Beteiligte:
Patt, M.
[VerfasserIn];
Wiemann, C.
[VerfasserIn];
Weber, N.
[VerfasserIn];
Escher, M.
[VerfasserIn];
Gloskovskii, A.
[VerfasserIn];
Drube, W.
[VerfasserIn];
Merkel, M.
[VerfasserIn];
Schneider, C. M.
[VerfasserIn]
Erschienen:
American Institute of Physics, 2014
Erschienen in:Review of scientific instruments 85(11), 113704 (2014). doi:10.1063/1.4902141
Sprache:
Englisch
DOI:
https://doi.org/10.1063/1.4902141
ISSN:
1089-7623;
0034-6748
Entstehung:
Anmerkungen:
Diese Datenquelle enthält auch Bestandsnachweise, die nicht zu einem Volltext führen.