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Ali, Hasan [VerfasserIn]; Rusz, Jan [VerfasserIn]; Bürgler, Daniel E. [VerfasserIn]; Adam, Roman [VerfasserIn]; Schneider, Claus M. [VerfasserIn]; Tai, Cheuk-Wai [VerfasserIn]; Thersleff, Thomas [VerfasserIn]

Noise-dependent bias in quantitative STEM-EMCD experiments revealed by bootstrapping

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  • Medientyp: E-Artikel
  • Titel: Noise-dependent bias in quantitative STEM-EMCD experiments revealed by bootstrapping
  • Beteiligte: Ali, Hasan [VerfasserIn]; Rusz, Jan [VerfasserIn]; Bürgler, Daniel E. [VerfasserIn]; Adam, Roman [VerfasserIn]; Schneider, Claus M. [VerfasserIn]; Tai, Cheuk-Wai [VerfasserIn]; Thersleff, Thomas [VerfasserIn]
  • Erschienen: Elsevier Science, 2024
  • Erschienen in: Ultramicroscopy 257, 113891 - (2024). doi:10.1016/j.ultramic.2023.113891
  • Sprache: Englisch
  • DOI: https://doi.org/10.1016/j.ultramic.2023.113891; https://doi.org/10.34734/FZJ-2024-00469
  • ISSN: 0304-3991; 1879-2723
  • Entstehung:
  • Anmerkungen: Diese Datenquelle enthält auch Bestandsnachweise, die nicht zu einem Volltext führen.
  • Zugangsstatus: Freier Zugang