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Mittmann, Terence [VerfasserIn]; Szyjka, Thomas [VerfasserIn]; Schroeder, Uwe [VerfasserIn]; Alex, Hsain [VerfasserIn]; Istrate, Marian Cosmin [VerfasserIn]; Lomenzo, Patrick D. [VerfasserIn]; Baumgarten, Lutz [VerfasserIn]; Müller, Martina [VerfasserIn]; Jones, Jacob L. [VerfasserIn]; Pintilie, Lucian [VerfasserIn]; Mikolajick, Thomas [VerfasserIn]

Impact of Iridium Oxide Electrodes on the Ferroelectric Phase of Thin Hf 0.5 Zr 0.5 O 2 Films

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  • Medientyp: E-Artikel
  • Titel: Impact of Iridium Oxide Electrodes on the Ferroelectric Phase of Thin Hf 0.5 Zr 0.5 O 2 Films
  • Beteiligte: Mittmann, Terence [VerfasserIn]; Szyjka, Thomas [VerfasserIn]; Schroeder, Uwe [VerfasserIn]; Alex, Hsain [VerfasserIn]; Istrate, Marian Cosmin [VerfasserIn]; Lomenzo, Patrick D. [VerfasserIn]; Baumgarten, Lutz [VerfasserIn]; Müller, Martina [VerfasserIn]; Jones, Jacob L. [VerfasserIn]; Pintilie, Lucian [VerfasserIn]; Mikolajick, Thomas [VerfasserIn]
  • Erschienen: Wiley-VCH, 2021
  • Erschienen in: Physica status solidi / Rapid research letters 15(5), 2100012 - (2021). doi:10.1002/pssr.202100012
  • Sprache: Englisch
  • DOI: https://doi.org/10.1002/pssr.202100012
  • ISSN: 1862-6270; 1862-6254
  • Entstehung:
  • Anmerkungen: Diese Datenquelle enthält auch Bestandsnachweise, die nicht zu einem Volltext führen.
  • Zugangsstatus: Freier Zugang