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Apprich, Clemens [VerfasserIn] ; Apprich, Clemens [MitwirkendeR]; Chun, Wendy Hui Kyong [MitwirkendeR]; Cramer, Florian [MitwirkendeR]; Steyerl, Hito [MitwirkendeR]

Data Paranoia: How to Make Sense of Pattern Discrimination

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  • Medientyp: E-Artikel
  • Titel: Data Paranoia: How to Make Sense of Pattern Discrimination
  • Beteiligte: Apprich, Clemens [VerfasserIn]
  • Erschienen: meson press; University of Minnesota Press; Lüneburg, 2018
  • Erschienen in: Clemens Apprich: Data Paranoia: How to Make Sense of Pattern Discrimination. In: Clemens Apprich, Wendy Hui Kyong Chun, Florian Cramer et al. (Hg.): Pattern Discrimination. Minneapolis, Lüneburg: University of Minnesota Press; meson press (2018) (In Search of Media), S. 99–123. DOI: http://dx.doi.org/10.25969/mediarep/12351.
  • Sprache: Englisch
  • DOI: https://doi.org/10.25969/mediarep/12351; https://doi.org/10.14619/1457
  • ISBN: 978-3-95796-145-7
  • Schlagwörter: Künstliche Intelligenz ; Algorithmus ; recognition ; Massendaten ; algorithm ; Big Data ; Mustererkennung ; artificial intelligence ; pattern recognition ; pattern ; Erkennung ; Muster
  • Entstehung:
  • Anmerkungen: Diese Datenquelle enthält auch Bestandsnachweise, die nicht zu einem Volltext führen.
  • Zugangsstatus: Freier Zugang