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Medientyp: E-Book; Hochschulschrift Titel: Robust design of DRAM core circuits : yield estimation and analysis by a statistical design approach Beteiligte: Li, Yan [Verfasser] Umfang: Online-Ressource Sprache: Englisch Identifikator: Schlagwörter: Dynamisches RAM > Leseverstärker > CMOS > Speicherzelle > Chip > Schaltungsentwurf > Schaltungsanalyse > Leckstrom Entstehung: Hochschulschrift: München, Techn. Univ., Diss., 2010 Anmerkungen: Zugangsstatus: Freier Zugang