> Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.
Medientyp: E-Book; Hochschulschrift Titel: Entwicklung und Validierung der Methode GIXRF-NEXAFS zur Analyse von tief vergrabenen Nanoschichtsystemen Weitere Titel: Development and validation of the methodology GIXRF-NEXAFS for the analysis of deeply buried nano-layered systems Beteiligte: Pollakowski, Beatrix [Verfasser]; Beckhoff, Burkhard [Akademischer Betreuer] Erschienen: Berlin: Universitätsbibliothek der Technischen Universität Berlin, 2011 Umfang: Online-Ressource Sprache: Deutsch Identifikator: Schlagwörter: Röntgenabsorptionsspektroskopie ; Röntgenfluoreszenz ; Chemische Analyse ; Nanoskalige Materialien und Strukturen X-ray absorption spectroscopy ; X-ray fluorescence ; Chemical analysis ; Nanoscale materials and structures ; Hochschulschrift Entstehung: Hochschulschrift: Berlin, Technische Universtität Berlin, Diss., 2011 Anmerkungen: Zugangsstatus: Freier Zugang