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Schäfer, Norbert [VerfasserIn] ; Reimers, Walter [AkademischeR BetreuerIn]; Reimers, Walter [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Lips, Klaus [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Assessing microstrain in polycrystalline thin films by means of various diffraction and spectroscopy techniques

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  • Medientyp: E-Book
  • Titel: Assessing microstrain in polycrystalline thin films by means of various diffraction and spectroscopy techniques
  • Weitere Titel: Ermittlung von Mikrodehnungsverteilungen in polykristallinen Dünnschichten mittels verschiedener Beugungs- und Spektroskopietechniken
  • Beteiligte: Schäfer, Norbert [Verfasser]; Reimers, Walter [Akademischer Betreuer]; Reimers, Walter [Gutachter]; Lips, Klaus [Gutachter]
  • Erschienen: Berlin: Technische Universität Berlin, 2016
  • Umfang: Online-Ressource
  • Sprache: Englisch
  • DOI: 10.14279/depositonce-5460
  • Identifikator:
  • Entstehung:
  • Hochschulschrift: Dissertation, Berlin, Technische Universität Berlin, 2016
  • Anmerkungen:
  • Zugangsstatus: Freier Zugang