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Medientyp: E-Book Titel: Investigation of ternary nitride semiconductor alloys by scanning tunneling microscopy Weitere Titel: Untersuchung von ternären Nitrid-Halbleiter-Legierungen mittels Rastertunnelmikroskopie Beteiligte: Portz, Verena [Verfasser]; Ebert, Philipp [Akademischer Betreuer]; Taubner, Thomas Günter [Akademischer Betreuer] Erschienen: Aachen: Universitätsbibliothek der RWTH Aachen, 2017 Erschienen in: Schriften des Forschungszentrums Jülich. Reihe Information ; 48 Umfang: Online-Ressource Sprache: Englisch DOI: 10.18154/RWTH-2017-04262 Identifikator: Entstehung: Hochschulschrift: Dissertation, RWTH Aachen University, 2017 Anmerkungen: Jülich : Forschungszentrum Jülich GmbH, Zentralbibliothek, 2017 Zugangsstatus: Freier Zugang