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Yan, Yulin [Verfasser:in] ; Lehnert, Werner [Akademische:r Betreuer:in]; Singheiser, Lorenz [Akademische:r Betreuer:in]

Degradation study of SOC stacks with impedance spectroscopy

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  • Medientyp: E-Book
  • Titel: Degradation study of SOC stacks with impedance spectroscopy
  • Weitere Titel: Degradationsstudie von SOC-Stacks mit Impedanzspektroskopie
  • Beteiligte: Yan, Yulin [Verfasser:in]; Lehnert, Werner [Akademische:r Betreuer:in]; Singheiser, Lorenz [Akademische:r Betreuer:in]
  • Erschienen: Aachen: Universitätsbibliothek der RWTH Aachen, 2018
  • Umfang: Online-Ressource
  • Sprache: Englisch
  • DOI: 10.18154/RWTH-2018-230369
  • Identifikator:
  • Schlagwörter: Impedance spectroscopy
  • Entstehung:
  • Hochschulschrift: Dissertation, Rheinisch-Westfälische Technische Hochschule Aachen, 2018
  • Anmerkungen:
  • Zugangsstatus: Freier Zugang