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Medientyp: E-Book Titel: X-ray structural characterization of individual as-grown GaAs/(In,Ga)As/(GaAs) based core-multi-shell nanowires Beteiligte: Al Hassan, Ali [Verfasser]; Pietsch, Ullrich [Gutachter] Erschienen: Siegen: Universitätsbibliothek der Universität Siegen, 2019 Umfang: Online-Ressource Sprache: Englisch Identifikator: Schlagwörter: Nanowires ; Röntgendiffraktometrie ; Core-shell nanowires ; Nano X-ray diffraction ; Structural and optical properties Entstehung: Hochschulschrift: Dissertation, Siegen, Universität Siegen, 2019 Anmerkungen: Zugangsstatus: Freier Zugang