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Dong, Xingchen [VerfasserIn] ; Koch, Alexander W. [AkademischeR BetreuerIn]; Koch, Alexander W. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Ntziachristos, Vasilis [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Hyperspectral imaging microscopy for atomic layer mapping of two-dimensional materials

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  • Medientyp: E-Book
  • Titel: Hyperspectral imaging microscopy for atomic layer mapping of two-dimensional materials
  • Weitere Titel: Hyperspektrale Bildgebungsmikroskopie zur atomaren Schichtkartierung zweidimensionaler Materialien
  • Beteiligte: Dong, Xingchen [Verfasser]; Koch, Alexander W. [Akademischer Betreuer]; Koch, Alexander W. [Gutachter]; Ntziachristos, Vasilis [Gutachter]
  • Erschienen: München: Universitätsbibliothek der TU München, 2021
  • Umfang: Online-Ressource
  • Sprache: Englisch
  • Identifikator:
  • Schlagwörter: Materials ; Microscopy ; Hyperspectral imaging ; ELT Elektrotechnik
  • Entstehung:
  • Hochschulschrift: Dissertation, München, Technische Universität München, 2021
  • Anmerkungen:
  • Zugangsstatus: Freier Zugang