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Medientyp: E-Book Titel: Degradation Models and Optimizations for CMOS Circuits Beteiligte: Van Santen, Victor [Verfasser]; Henkel, Jörg [Akademischer Betreuer]; Amrouch, Hussam [Akademischer Betreuer]; Schlichtmann, Ulf [Akademischer Betreuer] Erschienen: Karlsruhe: KIT-Bibliothek, 2023 Umfang: Online-Ressource Sprache: Englisch DOI: 10.5445/IR/1000158506 Identifikator: Schlagwörter: Zuverlässigkeit ; Degradation ; CMOS ; Schaltungsentwurf ; MOS-FET ; Entwurfsautomation ; Aging ; BTI ; Circuit ; Circuit Reliability ; FinFET ; Hot Carriers ; HCD ; HCI ; MOSFET ; Reliability ; RTN ; PV ; Transistor ; Variability ; Variation Entstehung: Hochschulschrift: Dissertation, Karlsruhe, Karlsruher Institut für Technologie (KIT), 2022 Anmerkungen: Zugangsstatus: Freier Zugang