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Medientyp: E-Book Titel: Abbildende Ellipsometrie mit Lichtwegumkehrung für die optische Charakterisierung von gekrümmten Oberflächen Beteiligte: Negara, Christian Emanuel [Verfasser]; Beyerer, J. [Akademischer Betreuer]; Lemmer, Uli [Akademischer Betreuer] Erschienen: Karlsruhe: KIT-Bibliothek, 2023 Umfang: Online-Ressource Sprache: Deutsch DOI: 10.5445/IR/1000158534 Identifikator: Schlagwörter: Ellipsometrie ; Oberfläche ; Technische Oberfläche ; Müller-Matrix ; Freiformfläche ; Oberflächenprüfung ; gekrümmte Oberflächen ; Messtechnik ; Polarisation ; Retroreflexion ; Bildverarbeitung ; Automatische Sichtprüfung Entstehung: Hochschulschrift: Dissertation, Karlsruhe, Karlsruher Institut für Technologie (KIT), 2023 Anmerkungen: Zugangsstatus: Freier Zugang