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Fuhrmann, Jan [VerfasserIn] ; Eckel, Hans-Günter [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Kaminski, Nando [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Domes, Daniel [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

IGBT-Kurzschlussverhalten am Beispiel einer schnellen Fehlerstrombegrenzung für Hochvolt-Halbleiterversuchsplätze

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  • Medientyp: E-Book; Hochschulschrift
  • Titel: IGBT-Kurzschlussverhalten am Beispiel einer schnellen Fehlerstrombegrenzung für Hochvolt-Halbleiterversuchsplätze
  • Beteiligte: Fuhrmann, Jan [Verfasser]; Eckel, Hans-Günter [Gutachter]; Kaminski, Nando [Gutachter]; Domes, Daniel [Gutachter]
  • Erschienen: Rostock: Universität Rostock, 2016
  • Umfang: Online-Ressource
  • Sprache: Deutsch
  • DOI: 10.18453/rosdok_id00001776
  • Identifikator:
  • Schlagwörter: IGBT ; Leistungshalbleiter ; Simulation ; Hochschulschrift
  • Entstehung:
  • Hochschulschrift: Dissertation, Rostock, Universität Rostock. Fakultät für Informatik und Elektrotechnik, 2016
  • Anmerkungen:
  • Zugangsstatus: Freier Zugang
  • Rechte-/Nutzungshinweise: Urheberrechtsschutz