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Medientyp: E-Book; Hochschulschrift Titel: Elektronenmikroskopische Untersuchungen zur Segregation von Ga an Al-Korngrenzen Beteiligte: Schmidt, Steffen [Verfasser] Erschienen: Stuttgart: Max-Planck-Inst. für Metallforschung, [2004] Erschienen in: Max-Planck-Institut für Metallforschung: Bericht ; 3144 Umfang: Online-Ressource Sprache: Deutsch Identifikator: Schlagwörter: Durchstrahlungselektronenmikroskopie ; Versprödung ; Strahlaufweitung ; Korngrenze ; Kristallseigerung ; Hochschulschrift Entstehung: Hochschulschrift: Zugl.: Stuttgart, Univ., Diss., 2003 Anmerkungen: Zugangsstatus: Freier Zugang