DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE,
German Commission for Electrical, Electronic and Information Technologies of DIN and VDE,
DIN Deutsches Institut für Normung e. V.,
DIN German Institute for Standardization
DIN EN 60747-5-3*VDE 0884-3
: Einzel-Halbleiterbauelemente und integrierte Schaltungen - Teil 5-3: Optoelektronische Bauelemente; Messverfahren (IEC 60747-5-3:1997 + A1:2002); Deutsche Fassung EN 60747-5-3:2001 + A1:2002
- [2003-01-00]
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Medientyp:
Norm
Titel:
DIN EN 60747-5-3*VDE 0884-3
:
Einzel-Halbleiterbauelemente und integrierte Schaltungen - Teil 5-3: Optoelektronische Bauelemente; Messverfahren (IEC 60747-5-3:1997 + A1:2002); Deutsche Fassung EN 60747-5-3:2001 + A1:2002
Weitere Titel:
Früher unter dem Titel: DIN EN 60747-5-3 (2002-04)
Früher unter dem Titel: DIN IEC 47C/199/CD (1998-04)
Später unter dem Titel: DIN EN 60747-5-5 (2011-11, t)
Discrete semiconductor devices and integrated circuits - Part 5-3: Optoelectronic devices; Measuring methods (IEC 60747-5-3:1997 + A1:2002); German version EN 60747-5-3:2001 + A1:2002
Dispositifs discrets à semiconducteurs et circuits intégrés - Partie 5-3: Dispositifs optoélectroniques; Méthodes de mesure (CEI 60747-5-3:1997 + A1:2002); Version allemande EN 60747-5-3:2001 + A1:2002
Anmerkungen:
Internationale Übereinstimmung mit: EN 60747-5-3 (2001-07), IDT*EN 60747-5-3/A1 (2002-05), IDT*IEC 60747-5-3 (1997-08), IDT*IEC 60747-5-3 AMD 1 (2002-03), IDT
Beschreibung:
Dieser Teil der IEC 60747 beschreibt die Messverfahren für optoelektronische Halbleiterbauelemente, die nicht in faseroptischen Systemen oder Untersystemen angewendet werden.