DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE,
German Commission for Electrical, Electronic and Information Technologies of DIN and VDE,
DIN Deutsches Institut für Normung e. V.,
DIN German Institute for Standardization
DIN EN IEC 60749-17*VDE 0884-749-17
- [2019-11-00]
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Medientyp:
Norm
Titel:
DIN EN IEC 60749-17*VDE 0884-749-17
:
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 17: Neutronenbestrahlung (IEC 60749-17:2019); Deutsche Fassung EN IEC 60749-17:2019
Weitere Titel:
Früher unter dem Titel: DIN EN 60749-17 (2003-09)
Früher unter dem Titel: DIN EN 60749-17 (2018-07)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation (IEC 60749-17:2019); German version EN IEC 60749-17:2019
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 17: Irradiation aux neutrons (IEC 60749-17:2019); Version allemande EN IEC 60749-17:2019
Beschreibung:
Dieser Teil der Reihe DIN EN 60749 (VDE 0884-749) enthält das Prüfverfahren mit Neutronenbestrahlung, das angewandt wird, um die Anfälligkeit von Halbleiterbauelementen bezüglich der Degradation durch nichtionisierenden Energieverlust (NIEL) zu bestimmen. Diese Prüfungen sind sowohl auf integrierte Schaltungen als auch auf Einzelhalbleiterbauelemente anwendbar.