DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE,
German Commission for Electrical, Electronic and Information Technologies of DIN and VDE,
DIN Deutsches Institut für Normung e. V.,
DIN German Institute for Standardization
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Medientyp:
Norm
Titel:
DIN EN IEC 60749-41
:
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 41: Standardisierte Prüfverfahren für die Zuverlässigkeit von nichtflüchtigen Speicher-Bauelementen (IEC 60749-41:2020); Deutsche Fassung EN IEC 60749-41:2020
Weitere Titel:
Früher unter dem Titel: DIN EN 60749-41 (2017-04)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices (IEC 60749-41:2020); German version EN IEC 60749-41:2020
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d´essais mécaniques et climatiques - Partie 41: Méthodes d´essai normalisées pour la fiabilité des dispositifs à mémoire non volatile (IEC 60749-41:2020); Version allemande EN IEC 60749-41:2020
Beschreibung:
Dieser Teil von IEC 60749 legt die verfahrenstechnischen Anforderungen zur Ausführung von gültigen Zykelfestigkeits-, Datenerhalts- und Temperaturdifferenzprüfungen fest, die auf einer Qualifikationsvorschrift beruhen. Qualifikationsvorschriften für die Zykelfestigkeit und den Datenerhalt (für Zykluszahlen, Zyklusdauer, Temperaturen und Stichprobengrößen) sind in JESD47 festgelegt oder werden anhand der wissensbasierten Verfahren wie z. B. in JESD94 erarbeitet.