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Medientyp: E-Artikel Titel: Error‐compensated time integrator in 28‐nm CMOS technology Beteiligte: Ji, Xincun; Wang, Youhua; Shen, Mengqi; Guo, Yufeng Erschienen: Institution of Engineering and Technology (IET), 2020 Erschienen in: Electronics Letters Sprache: Englisch DOI: 10.1049/el.2020.1074 ISSN: 0013-5194; 1350-911X Schlagwörter: Electrical and Electronic Engineering Entstehung: Anmerkungen: Zugangsstatus: Freier Zugang