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Medientyp: Elektronischer Konferenzbericht Titel: The Analyzer System for Diffraction Enhanced Imaging at the ELETTRA Synchrotron Facility Beteiligte: Arfelli, Fulvia Erschienen: AIP, 2004 Erschienen in: AIP Conference Proceedings Umfang: Sprache: Nicht zu entscheiden DOI: 10.1063/1.1758050 ISSN: 0094-243X Entstehung: Anmerkungen: