> Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.
Medientyp: E-Artikel Titel: Defect depth quantification using lock-in thermography Beteiligte: Delanthabettu, Sharath; Menaka, Murugesan; Venkatraman, Balasubramanian; Raj, Baldev Erschienen: Informa UK Limited, 2015 Erschienen in: Quantitative InfraRed Thermography Journal Sprache: Englisch DOI: 10.1080/17686733.2015.1013663 ISSN: 1768-6733; 2116-7176 Schlagwörter: Electrical and Electronic Engineering ; Instrumentation Entstehung: Anmerkungen: