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Medientyp: E-Artikel Titel: Scanning tunnelling microscopy and spectroscopy of nanocrystalline silicon films Beteiligte: Nogales, E; Méndez, B; Piqueras, J; Plugaru, R Erschienen: IOP Publishing, 2001 Erschienen in: Semiconductor Science and Technology, 16 (2001) 9, Seite 789-792 Sprache: Nicht zu entscheiden DOI: 10.1088/0268-1242/16/9/309 ISSN: 0268-1242; 1361-6641 Schlagwörter: Materials Chemistry ; Electrical and Electronic Engineering ; Condensed Matter Physics ; Electronic, Optical and Magnetic Materials Entstehung: Anmerkungen: