Yun, Dong-Jin;
Chung, JaeGwan;
Heon Kim, Seong;
Kim, Yongsu;
Park, SungHoon;
Seol, Minsu;
Heo, Sung
Direct analytical method of contact position effects on the energy-level alignments at organic semiconductor/electrode interfaces using photoemission spectroscopy combined with Ar gas cluster ion beam sputtering
Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.
Medientyp:
E-Artikel
Titel:
Direct analytical method of contact position effects on the energy-level alignments at organic semiconductor/electrode interfaces using photoemission spectroscopy combined with Ar gas cluster ion beam sputtering
Beteiligte:
Yun, Dong-Jin;
Chung, JaeGwan;
Heon Kim, Seong;
Kim, Yongsu;
Park, SungHoon;
Seol, Minsu;
Heo, Sung
Erschienen:
IOP Publishing, 2015
Erschienen in:
Nanotechnology, 26 (2015) 46, Seite 465704