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Adam, W.;
Bergauer, T.;
Brondolin, E.;
Dragicevic, M.;
Friedl, M.;
Frühwirth, R.;
Hoch, M.;
Hrubec, J.;
König, A.;
Steininger, H.;
Treberspurg, W.;
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Alderweireldt, S.;
Beaumont, W.;
Janssen, X.;
Lauwers, J.;
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Remortel, N. Van;
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Beghin, D.;
Brun, H.;
Clerbaux, B.;
Lentdecker, G. De;
Delannoy, H.;
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Test beam demonstration of silicon microstrip modules with transverse momentum discrimination for the future CMS tracking detector
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- Medientyp: E-Artikel
- Titel: Test beam demonstration of silicon microstrip modules with transverse momentum discrimination for the future CMS tracking detector
- Beteiligte: Adam, W.; Bergauer, T.; Brondolin, E.; Dragicevic, M.; Friedl, M.; Frühwirth, R.; Hoch, M.; Hrubec, J.; König, A.; Steininger, H.; Treberspurg, W.; Waltenberger, W.; Alderweireldt, S.; Beaumont, W.; Janssen, X.; Lauwers, J.; Mechelen, P. Van; Remortel, N. Van; Spilbeeck, A. Van; Beghin, D.; Brun, H.; Clerbaux, B.; Lentdecker, G. De; Delannoy, H.; [...]
- Erschienen: IOP Publishing, 2018
- Erschienen in: Journal of Instrumentation
- Sprache: Nicht zu entscheiden
- DOI: 10.1088/1748-0221/13/03/p03003
- ISSN: 1748-0221
- Schlagwörter: Mathematical Physics ; Instrumentation
- Entstehung:
- Anmerkungen: