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Medientyp: E-Artikel Titel: Leakage current-induced effects in the silicon microstrip and gas electron multiplier readout chain and their compensation method Beteiligte: Zubrzycka, W.; Kasinski, K. Erschienen: IOP Publishing, 2018 Erschienen in: Journal of Instrumentation Sprache: Nicht zu entscheiden DOI: 10.1088/1748-0221/13/04/t04003 ISSN: 1748-0221 Schlagwörter: Mathematical Physics ; Instrumentation Entstehung: Anmerkungen: