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Medientyp: E-Artikel Titel: Studies of the Si/SiO2 interface by angular dependent X-ray photoelectron spectroscopy Beteiligte: Finster, J.; Schulze, D. Erschienen: Wiley, 1981 Erschienen in: Physica Status Solidi (a) Sprache: Deutsch DOI: 10.1002/pssa.2210680221 ISSN: 1521-396X; 0031-8965 Entstehung: Anmerkungen: