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Medientyp: E-Artikel Titel: The propagation of light waves through oxygen irradiation induced depth profiles of the complex refractive index in silicon Beteiligte: Heidemann, K. F. Erschienen: Wiley, 1981 Erschienen in: Physica Status Solidi (a) Sprache: Deutsch DOI: 10.1002/pssa.2210680232 ISSN: 0031-8965; 1521-396X Schlagwörter: Condensed Matter Physics ; Electronic, Optical and Magnetic Materials ; Condensed Matter Physics ; Electronic, Optical and Magnetic Materials Entstehung: Anmerkungen: