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Medientyp: E-Artikel Titel: The Scanning Tunneling Microscope Investigation of Grain Boundaries in Silicon Beteiligte: Edelman, V. S.; Fionova, L. K.; Polyak, L. E.; Stepanyan, G. A.; Volodin, A. P.; Stepantsov, E. A. Erschienen: Wiley, 1991 Erschienen in: Physica Status Solidi (a), 123 (1991) 1, Seite 193-199 Sprache: Deutsch DOI: 10.1002/pssa.2211230118 ISSN: 1521-396X; 0031-8965 Schlagwörter: Condensed Matter Physics ; Electronic, Optical and Magnetic Materials ; Condensed Matter Physics ; Electronic, Optical and Magnetic Materials Entstehung: Anmerkungen: