• Medientyp: E-Artikel
  • Titel: Veränderungen an reinen Platinoberflächen durch gelöste Fremdstoffe: Beobachtungen mit dem Feldelektronenmikroskop
  • Beteiligte: Vanselow, R.
  • Erschienen: Wiley, 1967
  • Erschienen in: physica status solidi (b), 21 (1967) 1, Seite 69-76
  • Sprache: Englisch
  • DOI: 10.1002/pssb.19670210104
  • ISSN: 1521-3951; 0370-1972
  • Schlagwörter: Condensed Matter Physics ; Electronic, Optical and Magnetic Materials
  • Entstehung:
  • Anmerkungen:
  • Beschreibung: AbstractIm FEM wurden Spitzen aus spektralreinem Pt bei p < 1 × 10−9 Torr ohne Feld getempert. Unterhalb 500 °C blieb das durch geeignete Vorbehandlungen erzielte Bild der reinen Oberfläche erhalten. Oberhalb 500 °C bewirkten zur Spitzenkalotte diffundierende, aus dem Pt stammende Fremdstoffe Veränderungen. Bis ca. 1350 °C wurde eine reproduzierbare Folge sehr verschiedener Bilder durchlaufen, deren charakteristische Merkmale im wesentlichen von der Spitzentemperatur und meist nur wenig von der einige Minuten betragenden Temperdauer abhingen. Auf Grund bekannter flächenspezifischer Reaktionen bzw. Anlagerungen konnte ein Teil der Merkmale auf die Anwesenheit von Sauerstoff und Eisen zurückgeführt werden. Nach vorliegenden Analysen mit dem Feldionen‐Massenspektrometer ist weiterhin mit dem Vorliegen von Kupfer zu rechnen [1].