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Medientyp: E-Artikel Titel: Lecture Notes in Computer Science: Early Fault Detection in Industry Using Models at Various Abstraction Levels Beteiligte: Hooman, Jozef; Mooij, Arjan J.; van Wezep, Hans Erschienen: Springer Berlin Heidelberg, 2012 Erschienen in: Lecture Notes in Computer Science Sprache: Nicht zu entscheiden DOI: 10.1007/978-3-642-30729-4_19 ISSN: 0302-9743; 1611-3349 Entstehung: Anmerkungen: