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Medientyp: E-Artikel Titel: ONP Spectroscopy of Defects in Silicon Beteiligte: Bagraev, N. T.; Polovtsev, I. S. Erschienen: Springer Science and Business Media LLC, 2011 Erschienen in: Applied Magnetic Resonance Sprache: Englisch DOI: 10.1007/s00723-011-0216-6 ISSN: 0937-9347; 1613-7507 Schlagwörter: Atomic and Molecular Physics, and Optics Entstehung: Anmerkungen: