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Medientyp: E-Artikel Titel: Electron microscope study of dislocations introduced by deformation in a Si between 77 and 873 K Beteiligte: Okuno, T.; Saka, H. Erschienen: Springer Science and Business Media LLC, 2013 Erschienen in: Journal of Materials Science, 48 (2013) 1, Seite 115-124 Sprache: Englisch DOI: 10.1007/s10853-012-6860-x ISSN: 0022-2461; 1573-4803 Entstehung: Anmerkungen: