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Medientyp: E-Artikel Titel: Comparative analysis of the H2 passivation of interface defects at the interface using electron spin resonance Beteiligte: Stesmans, A. Erschienen: Elsevier BV, 1996 Erschienen in: Solid State Communications Sprache: Englisch DOI: 10.1016/0038-1098(95)00535-8 ISSN: 0038-1098 Schlagwörter: Materials Chemistry ; Condensed Matter Physics ; General Chemistry Entstehung: Anmerkungen: