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Medientyp: E-Artikel Titel: Parameter extraction method for inhomogeneous MOSFETs locally damaged by hot carrier injection Beteiligte: Haddara, Hisham S.; Cristoloveanu, Sorin Erschienen: Elsevier BV, 1988 Erschienen in: Solid-State Electronics Sprache: Englisch DOI: 10.1016/0038-1101(88)90003-2 ISSN: 0038-1101 Schlagwörter: Materials Chemistry ; Electrical and Electronic Engineering ; Condensed Matter Physics ; Electronic, Optical and Magnetic Materials Entstehung: Anmerkungen: