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Medientyp: E-Artikel Titel: X-ray diffraction study of imperfections in epitaxial silicon on sapphire Beteiligte: Zeyfang, R. Erschienen: Elsevier BV, 1970 Erschienen in: Thin Solid Films Sprache: Englisch DOI: 10.1016/0040-6090(70)90082-9 ISSN: 0040-6090 Schlagwörter: Materials Chemistry ; Metals and Alloys ; Surfaces, Coatings and Films ; Surfaces and Interfaces ; Electronic, Optical and Magnetic Materials Entstehung: Anmerkungen: