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Medientyp: E-Artikel Titel: XRD characterization of multilayered systems Beteiligte: Scardi, P.; Lutterotti, L.; Tomasi, A. Erschienen: Elsevier BV, 1993 Erschienen in: Thin Solid Films Sprache: Englisch DOI: 10.1016/0040-6090(93)90657-b ISSN: 0040-6090 Schlagwörter: Materials Chemistry ; Metals and Alloys ; Surfaces, Coatings and Films ; Surfaces and Interfaces ; Electronic, Optical and Magnetic Materials Entstehung: Anmerkungen: