> Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.
Medientyp: E-Artikel Titel: A prognostic method for the embedded failure monitoring of solder interconnections with 1149.4 test bus architecture Beteiligte: Voutilainen, Juha; Putaala, Jussi; Moilanen, Markku; Jantunen, Heli Erschienen: Elsevier BV, 2009 Erschienen in: Microelectronics Journal Sprache: Englisch DOI: 10.1016/j.mejo.2007.09.009 ISSN: 0026-2692 Schlagwörter: General Engineering Entstehung: Anmerkungen: