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Medientyp: E-Artikel Titel: Study of the interface Si-nc/SiO2 by infrared spectroscopic ellipsometry and X-ray photoelectron spectroscopy Beteiligte: Stenger, I.; Gallas, B.; Siozade, L.; Fisson, S.; Vuye, G.; Chenot, S.; Rivory, J. Erschienen: Elsevier BV, 2007 Erschienen in: Physica E: Low-dimensional Systems and Nanostructures Sprache: Englisch DOI: 10.1016/j.physe.2006.12.032 ISSN: 1386-9477 Schlagwörter: Condensed Matter Physics ; Atomic and Molecular Physics, and Optics ; Electronic, Optical and Magnetic Materials Entstehung: Anmerkungen: