> Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.
Medientyp: E-Artikel Titel: Direct parameter-extraction method for MOSFET noise model from microwave noise figure measurement Beteiligte: Gao, Jianjun Erschienen: Elsevier BV, 2011 Erschienen in: Solid-State Electronics, 63 (2011) 1, Seite 42-48 Sprache: Englisch DOI: 10.1016/j.sse.2011.05.011 ISSN: 0038-1101 Schlagwörter: Materials Chemistry ; Electrical and Electronic Engineering ; Condensed Matter Physics ; Electronic, Optical and Magnetic Materials Entstehung: Anmerkungen: